- WObit - Konfokalny czujnik odleg??o??ci optoNCDT2402

Wysokiej precyzji system pomiarowy konfokalny optoNCDT 2400 sk??ada si�? z kontrolera i czujnika. Niemal dowolnie d??ugi kabel ??wiat??owodowy ??�?czy oba komponenty. Czujnik mo??e pracowa�? wi�?c te?? w oddaleniu od kontrolera co stanowi powa??n�? zalet�? w trudnym zak??óconym elektromagnetycznie ??rodowisku przemys??owym. Unikalne w??asno??ci czujnika konfokalnego pozwalaj�? na pomiar powierzchni i otworowa?? precyzyjnych obwodów drukowanych ale i przejrzystych powierzchni lub warstw np. z??o??onego szk??a. W farmacji i genetyce istnieje wiele zastosowa?? dla systemu konfokalnego, gdzie inne metody zawodz�?. Dzi�?ki bardzo ma??ej ??rednicy nowego czujnika (4mm) w obudowie z tytanu mo??liwe s�? pomiary w ograniczonej przestrzeni z du??�? rozdzielczo??ci�?, np. w miniaturowych probówkach stosowanych w genetyce. Równie?? w mechanice do tej pory trudno by??o zmierzy�? powierzchni�? wewn�?trz ma??ego otworu, czujnik IFS2402 ma do wyboru g??owice boczn�? lub na wprost.
Skanowanie bardzo miniaturowych powierzchni, nawet je??li s�? pó??przejrzyste lub powierzchnia jest odbijaj�?ca, stwarza zupe??nie nowe mo??liwo??ci analizy do tej pory zastrze??onej dla mikroskopów optycznych.

Polichromatyczne ??wiat??o (bia??e) jest ogniskowane na obiekcie mierzonym przez wielosoczewkow�? optyk�?. Soczewki s�? tak uporz�?dkowane, ??e przez kontrolowane chromatyczne odchylenie, ??wiat??o podzielone jest na monochromatyczne podzakresy. Ka??dej d??ugo??ci ??wiat??a przypisany jest okre??lony dystans. Odbite od mierzonego obiektu ??wiat??o poprowadzone jest przez optyczny uk??ad do uk??adu fotoczu??ego i odpowiednio rozpoznane spektralnie. Ten unikalny sposób pomiaru pozwala mierzy�? drog�? i dystans niezwykle precyzyjnie zarówno od rozpraszaj�?cych jak i odbijaj�?cych powierzchni. Przy transparentnych warstwach materia??u obok dystansu mo??na zmierzy�? grubo??�? warstwy.

System konfokalny sk??ada si�? z kontrolera z zasilaczem optycznym i zaawansowan�? elektronik�?, z czujnika, ??wiat??owodu ??�?cz�?cego kontroler z czujnikiem oraz zasilacza. Kontroler posiada wyj??cie ??�?czem szeregowym USB lub RS232 do komputera PC i wyj??cie na elektronik�? analogow�?. Kontroler obs??uguje tylko jeden czujnik, ale ma mo??liwo??�? zapisania do 20-tu ustawie?? czujnika. Kontroler zawiera ??ród??o ??wiat??a polichromatycznego, spektrometr, uk??ad optyczny z wej??ciem na ??wiat??owód do czujnika, procesor DSP z elektronika uzupe??niaj�?c�?, np. przetwornik D/A i wyj??cie cyfrowe.
System konfokalny IFD2400 umo??liwia precyzyjne pomiary prawie niezale??nie od rodzaju powierzchni obiektu. Przyk??adowo dla powierzchni g??adkich odbijaj�?cych ??wiat??o takich jak np. polerowane szk??o, czujnik o zakresie 1mm mierzy z rozdzielczo??ci�? 0,04um, przy liniowo??ci 0,5um daj�?c plamk�? wielko??ci 10um. Powierzchnie matowe rozpraszaj�?ce ??wiat??o pozwalaj�? na osi�?ganie liniowo??ci 0,5um dla zakresu 1mm.

W??asno??ci:
- ekstremalnie wysoka rozdzielczo??�? (nanometry)
- dla wszystkich powierzchni
- ma??a, sta??a plamka pomiarowa
- kompaktowe wej??cie promieni ??wietlnych
- jednostronny pomiar grubo??ci ( np. szk??a)
- czujnik jest ca??kowicie pasywny, nie emituje ciep??a, ani fal radiowych

Dane techniczne systemu pomiaru drogi IFD2400
Zakresy pomiarowe: 0,08 / 0,35 / 1 / 3 / 10 / 24 mm
Liniowo??�?: +-0,1% zakresu
Rozdzielczo??�?: 0,004% zakresu
Pr�?dko??�? pomiaru (nastawialna): 30 / 100 / 300 / 1000Hz
?�rednica plamki pomiarowej: 7 do 100um
Typowe zastosowania:
- pomiar dystansu do powierzchni zwierciadlanych i przejrzystych
- grubo??�? materia??ów przejrzystych
- pomiary w otworach (np. g??�?boko??ci)
- pomiar konturu powierzchni
- topografia powierzchni

Firma MicroEpsilon wdra??a coraz to nowe aplikacje tego systemu rozwi�?zuj�?c cz�?sto bardzo trudno mierzalne zjawiska i procesy zarówno w warunkach laboratoryjnych jak i ??ci??le przemys??owych na przyk??ad w produkcji telewizorów plazmowych.

Wi�?cej informacji na stronie:

www.micro-epsilon.pl
www.wobit.com.pl

Inne z produktów:

Spis firm

[1] 2 3